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  • SurfaceSeer S TOF-SIMS飛行時間二次離子質(zhì)譜儀
    SurfaceSeer S TOF-SIMS飛行時間二次離子質(zhì)譜儀

    產(chǎn)品型號

    SurfaceSeer S TOF-SIMS

    廠商性質(zhì)

    生產(chǎn)廠家

    更新時間

    2026-07-31

    瀏覽次數(shù)

    343

    產(chǎn)品描述

    SurfaceSeer S 飛行時間二次離子質(zhì)譜儀 (TOF-SIMS) 面向科研與工業(yè)質(zhì)控,具備 ppm 級表面靈敏度,采用超低損傷脈沖離子束技術(shù),可分析導(dǎo)電 / 絕緣樣品,用于薄膜質(zhì)控、界面分析、表面改性、催化、生物材料表征。支持正負(fù) SIMS 檢測,可選標(biāo)準(zhǔn)譜庫
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